質譜儀測量出帶電離子的荷質比，可進而分析離子的種類，其主要構造可分為離子源、具有均勻磁場 $B_1$ 的分析器及偵測器。質譜儀測量過程如圖12所示：質量 $m$、帶電荷 $q$（$q>0$）的離子，由離子源以速度 $v$ 垂直射入均勻磁場 $B_1$ 中（以 • 表示射出紙面方向），經過半個圓周後射入偵測器，離子源和偵測器的距離固定為 $L$，只有特定質量的離子才能射入偵測器被偵測到。實驗時先讓離子經過平行金屬板間的區域，如圖12左下所示，該區域有橫向的均勻電場 $E$ （以→表示電場方向）及進入紙面的均勻磁場 $B_2$（以 x 表示），目的為使垂直射入均勻磁場 $B_1$ 的離子皆有相同的速度 $v$。
回答下列問題。